薄膜厚度测定仪

薄膜厚度测定仪CHY-CB：测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 

薄膜厚度测定仪主要技术特征：
1、专业——CHY-CB采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。
2、高端——采用了Labthink较新研发的嵌入式计算机系统平台，其技术优势和用户体验远**传统的单片机技术。
3、智能——搭配了Labthink较新的操作软件，具有人性化的操作界面和智能化的数据处理功能；同时，在局域网的环境中，还支持Lystem?实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告。

薄膜厚度测定仪执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 

薄膜厚度测定仪技术指标： 
测试范围：0～2mm（标准）；0～6mm，12mm（可选） 
分辨率：0.1 μm 
测量速度：10 次/min （可调） 
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） 
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
      注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 
电源：AC 220V 50Hz 
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 
净重：37 kg 

薄膜厚度测定仪仪器配置：
标准配置：主机、显示器、键盘、鼠标、标准量块
选购件：测量头、配重砝码、打印机（需兼容标准PCL3打印命令语言）、Lystem?实验室数据共享系统 "